高技术企业有效增长速度的识别与检验

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摘要本文突破了当前学术界基于Van Horne模型和Higgins模型来评价企业增长速度有效性的传统思路, 依据中国294家高技术上市公司2007—2011年的面板数据, 建立动态面板sys_GMM模型并确立了[37.5%, 44.4%] 为企业的有效增长区间。同时发现, 能满足效益最大化目标的增长区间是[59.6%, 66.9%] , 能满足风险最小化目标的增长区间是[1.7%, 13.5%] 。进而采用样本企业价值创造能力方面的财务数据对上述研究结论的有效性加以验证。

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	伦蕊

关键词 ：高技术企业, 有效增长, 识别与检验

Abstract：In this paper, we break through the traditional ideas on the evaluation of enterprises- growth which based on Van Horne model and Higgins model.We build panel data model for the financial data of 294 high-tech enterprises in China from 2007 to 2011.The elastic interval of high-tech enterprises effective growth lies between 37.5% and 44.4%.And the growth interval for benefit maximization lies between 59.6% and 66.9%.The growth interval for risk minimization lies between 1.7% and 13.5%.Furthermore, this paper verifies the effectiveness of above conclusions by value creation ability data.

Key words： High-tech enterprise Effective growth Identification and inspection

收稿日期: 2013-06-20

PACS:

F276.44

作者简介: 伦蕊(1978-), 女, 河南郑州人, 河南财经政法大学副教授, 经济学博士;研究方向:技术经济。

引用本文:

伦蕊. 高技术企业有效增长速度的识别与检验[J]. , 2013(11): 68-72.
Lun Rui. The Identification and Inspection of the EffectiveGrowth Rate of High-tech Enterprises. , 2013(11): 68-72.

链接本文:

http://www.zgkjlt.org.cn/CN/Y2013/I11/68